コーティング厚さ分析用 EDXRF 分光計

VR-XAU は、さまざまな基板上の単層および多層コーティングを高精度・非破壊で測定するために設計された先進的な EDXRF（エネルギー分散型 X 線蛍光）コーティング厚さアナライザーです。最先端のハードウェアとインテリジェントソフトウェアを組み合わせ、幅広い産業における品質管理、プロセス最適化、規格遵守のために信頼性の高い測定結果を提供します。

マイクロフォーカス X 線管と高解像度 Si-PIN 検出器を搭載し、最大 23 層 のコーティングを同時に測定可能で、サブミクロンレベルの高精度を実現。高度な EFP アルゴリズムにより、複雑形状や曲面でも安定かつ再現性の高い測定が可能です。

主な特長として、高精度 XY 移動プラットフォームによる自動マルチポイント測定、手動ズーム・フォーカス機能付き統合カラ CCD カメラ、低光量下でのスポット位置合わせ技術を搭載。直感的なソフトウェアが操作ミスを自動検出し、ガイドを提供することで、トレーニング時間を短縮しミスを最小化します。

VR-XAU は、DIN ISO 3497、ASTM B568、DIN 50987 などの国際規格に準拠しており、貴金属めっき、電子機器、自動車、航空宇宙産業での用途に最適です。堅牢な設計と高度な分析能力により、製品品質向上や製造効率の改善に貢献する、コスト効率の高いツールです。