ЭДСРФ-спектрометр для анализа толщины покрытий

VR-XAU — это современный анализатор толщины покрытий EDXRF (энергетическая дисперсионная рентгеновская флуоресценция), разработанный для высокоточного недеструктивного измерения однослойных и многослойных покрытий на различных подложках. Комбинируя передовое оборудование с интеллектуальным программным обеспечением, он обеспечивает надежные результаты для контроля качества, оптимизации процессов и проверки соответствия стандартам в широком спектре отраслей.

Оснащенный микро-фокусной рентгеновской трубкой и высокоразрешающим детектором Si-PIN, прибор поддерживает одновременный анализ до 23 слоев покрытия с исключительной точностью — до субмикронного уровня. Передовой алгоритм EFP обеспечивает стабильные и повторяемые измерения даже на сложных или изогнутых поверхностях.

Ключевые особенности включают высокоточную XY-платформу для автоматизированного многоточечного измерения, интегрированную цветную CCD-камеру с ручным зумом и фокусировкой, а также технологию фокусировки при низкой освещенности для точного позиционирования точек. Удобное программное обеспечение автоматически выявляет ошибки при эксплуатации и предоставляет инструкции, сокращая время обучения и минимизируя ошибки.

VR-XAU соответствует международным стандартам, включая DIN ISO 3497, ASTM B568 и DIN 50987, что делает его идеальным решением для применения в гальваническом покрытии драгоценных металлов, электронике, автомобильной и аэрокосмической промышленности. Прочный корпус и продвинутые аналитические возможности делают его экономически эффективным инструментом для повышения качества продукции и эффективности производства.