Анализ состава покрытий VR-XD 1000 для сплавов и гальванических покрытий

VR-XD 1000 — это современный рентгенофлуоресцентный (XRF) анализатор толщины покрытий, разработанный для точного определения состава многослойных покрытий и анализа ванн для гальванических покрытий. Он особенно эффективен при измерении деталей сложной формы благодаря микро-фокусной рентгеновской трубке, алгоритму EFP и компенсации расстояния, обеспечивая высокую точность для промышленных задач контроля качества.

ОТПРАВИТЬ ЗАПРОС

ОНЛАЙН-ЧАТ

СКАЧАТЬ

Технические характеристики

Технические характеристики

Анализ толщины и состава покрытия

Тип анализатора

550 × 750 × 650 mm

Размеры машины

Оптический путь сверху вниз

Конструкция оптического пути

100 kg

Вес нетто

0-90 мм (с компенсацией расстояния)

Диапазон измерения расстояний

AC100V-240V, 50/60Hz

Требования к питанию

0.01mm²

Минимальная точка измерения

Расширенный алгоритм EFP

Программный алгоритм

Высокоточная ручная платформа

Платформа XY

Многоточечное тестирование, адаптация сложной формы

Специальные возможности

Анализатор толщины и состава покрытий VR-XD 1000: точность для сложных промышленных применений

VR-XD 1000 — это высокопроизводительный рентгенофлуоресцентный (XRF) анализатор, разработанный для обеспечения исключительной точности при измерении толщины покрытий и анализа состава в широком спектре промышленных процессов нанесения покрытий и работы со сплавами. Он создан для сложных измерительных задач и является идеальным решением для специалистов по контролю качества, работающих с деталями сложной формы, углублениями и многослойными покрытиями.

Инновационная конструкция оптического пути сверху вниз позволяет проводить неразрушающее тестирование образцов неправильной формы, которые сложно измерить традиционными настольными приборами. В основе аналитической мощности устройства — микро-фокусная рентгеновская трубка и усовершенствованный алгоритм EFP (Elite Fundamental Parameters), работающие совместно для получения точных результатов на участках размером всего 0,01 мм². Система дополнительно оснащена интеллектуальным увеличительным устройством и сложной функцией коррекции расстояния, компенсирующей вариации измерительного расстояния до 90 мм, что обеспечивает стабильную точность на изогнутых или неровных поверхностях.

VR-XD 1000 поддерживает одновременный анализ нескольких слоев и элементов внутри этих слоев, предоставляя детальные сведения о сложных структурах покрытий, включая толщину одного и того же элемента в разных слоях. Современная технология разложения спектра минимизирует влияние соседних элементов, значительно повышая точность теста и снижая пределы обнаружения.

Созданный для надежной и удобной работы в промышленных условиях, прибор имеет прочную конструкцию и высокоточную ручную платформу для точного позиционирования образцов. Он представляет собой идеальное сочетание мощных аналитических возможностей и практичной функциональности, делая его незаменимым инструментом в автомобильной, авиационной, электронной и металлообрабатывающей промышленности, где контроль целостности и состава покрытий критически важен для качества продукции и соблюдения стандартов.

Быстрое тестирование

Результаты за 30 секунд, значительно повышая эффективность работы.

Универсальные области применения

Подходит для широкого спектра задач.

Высокоточная аналитика

Современные алгоритмы и оптические системы обеспечивают точность и надёжность.

Неразрушающее тестирование

Контактный анализ сохраняет образцы в целости.

VR-XD 1000: непревзойденная универсальность для анализа сложных покрытий и сплавов

VR-XD 1000 разработан для решения самых сложных промышленных задач измерения, обеспечивая исключительную точность при анализе толщины и состава покрытий на крупных, сложных и неправильно сформированных образцах. Он сочетает в себе мощное аппаратное обеспечение и интеллектуальное программное обеспечение для надежного, неразрушающего тестирования и строгого контроля качества.

Основные преимущества:

Работа с крупными и сложными образцами: Уникальная конструкция оптического пути сверху вниз позволяет точно измерять детали и компоненты с углублениями, изгибами и сложной геометрией.
Высокая точность измерений: Микро-фокусный рентгеновский источник и усовершенствованный алгоритм EFP обеспечивают точный анализ на маленьких участках (до 0,01 мм²) и многослойных покрытиях.
Интеллектуальная компенсация расстояния: Современные технологии масштабирования и коррекции гарантируют стабильную точность при изменении расстояния измерения от 0 до 90 мм.
Продвинутое спектральное разрешение: Программное обеспечение для разложения спектра минимизирует влияние соседних элементов, обеспечивая высокую точность обнаружения и стабильность результатов.
Промышленная надежность: Разработан для работы в сложных условиях, отличается прочной конструкцией и высокоточной ручной платформой для надежной ежедневной эксплуатации.

Ключевые особенности:

Анализ многослойных и многоэлементных покрытий: Одновременное измерение толщины и состава сложных многослойных покрытий, включая один и тот же элемент в разных слоях.
Широкий элементный диапазон: Возможен анализ элементов от Лития (Li) до Урана (U).
Гибкая коллимация: Дополнительные коллиматоры (например, φ0,2 мм, φ0,7 мм) позволяют оптимизировать размер пятна в зависимости от требований приложения.
Анализ ванн гальваники: Обеспечивает точный анализ концентрации в растворах для гальванических ванн, необходимый для контроля процессов.
Удобство эксплуатации: Интуитивное программное обеспечение ведет пользователя через процесс измерения, обеспечивая простоту работы и снижая вероятность ошибок оператора.