Kaplama Kalınlığı Analizi için EDXRF Spektrometresi

VR-XAU, çeşitli alt yüzeylerde tek ve çok katmanlı kaplamaların yüksek hassasiyetli, tahribatsız ölçümü için tasarlanmış ileri düzey bir EDXRF (Enerji Dağılımlı X-Işını Floresansı) kaplama kalınlığı analiz cihazıdır. En son donanımı akıllı yazılımla birleştirerek, geniş bir sektör yelpazesinde kalite kontrol, süreç optimizasyonu ve standart doğrulama için güvenilir sonuçlar sunar.

Mikro odaklı X-ışını tüpü ve yüksek çözünürlüklü Si-PIN detektörü ile donatılmış cihaz, 23 kaplama katmanına kadar eş zamanlı analiz yapabilir ve alt mikron seviyelerine kadar olağanüstü doğruluk sağlar. Gelişmiş EFP algoritması, karmaşık veya eğimli yüzeylerde bile stabil ve tekrarlanabilir ölçümler sunar.

Ana özellikler arasında, otomatik çok noktalı ölçüm için yüksek hassasiyetli XY hareketli platform, manuel yakınlaştırma ve odaklama özellikli entegre renkli CCD kamera ve tutarlı nokta hizalaması için düşük ışık odaklama teknolojisi bulunur. Kullanıcı dostu yazılım, operasyon hatalarını otomatik olarak tespit eder ve yönlendirme sağlar, eğitim süresini kısaltır ve hata oranını azaltır.

VR-XAU, DIN ISO 3497, ASTM B568 ve DIN 50987 dahil uluslararası standartlara uygundur ve değerli metal kaplamalar, elektronik, otomotiv ve havacılık üretimi gibi uygulamalar için ideal bir çözümdür. Sağlam tasarımı ve sofistike analitik yetenekleri, ürün kalitesini artırmak ve üretim verimliliğini yükseltmek için maliyet-etkin bir araç sunar.