Máy Quang Phổ EDXRF Phân Tích Độ Dày Lớp Phủ

VR-XAU là thiết bị phân tích độ dày lớp phủ EDXRF (Huỳnh quang tia X tán sắc năng lượng) tiên tiến, được thiết kế để đo lường không phá hủy với độ chính xác cao các lớp phủ đơn và đa lớp trên nhiều loại vật liệu nền. Kết hợp phần cứng hiện đại với phần mềm thông minh, thiết bị mang lại kết quả đáng tin cậy cho kiểm soát chất lượng, tối ưu hóa quy trình và xác minh tuân thủ tiêu chuẩn trong nhiều lĩnh vực công nghiệp.

Được trang bị ống tia X vi tiêu điểm và đầu dò Si-PIN độ phân giải cao, thiết bị hỗ trợ phân tích đồng thời tối đa 23 lớp phủ với độ chính xác vượt trội — đạt tới mức dưới micron. Thuật toán EFP tiên tiến đảm bảo phép đo ổn định và lặp lại tốt ngay cả trên các bề mặt phức tạp hoặc cong.

Các tính năng chính bao gồm bàn di chuyển XY độ chính xác cao cho đo đa điểm tự động, camera CCD màu tích hợp với khả năng zoom và lấy nét thủ công, cùng công nghệ lấy nét ánh sáng yếu giúp căn chỉnh điểm đo ổn định. Phần mềm thân thiện với người dùng tự động phát hiện lỗi vận hành và cung cấp hướng dẫn, giúp rút ngắn thời gian đào tạo và giảm thiểu sai sót.

VR-XAU đáp ứng các tiêu chuẩn quốc tế như DIN ISO 3497, ASTM B568 và DIN 50987, trở thành giải pháp lý tưởng cho các ứng dụng mạ kim loại quý, điện tử, ô tô và hàng không vũ trụ. Với thiết kế bền bỉ và khả năng phân tích tinh vi, thiết bị mang lại hiệu quả chi phí cao, góp phần nâng cao chất lượng sản phẩm và hiệu suất sản xuất.