Phân Tích Thành Phần Lớp Phủ VR-XD 1000 cho Hợp Kim & Mạ

VR-XD 1000 là máy phân tích huỳnh quang tia X (XRF) hiệu suất cao, được phát triển để mang lại độ chính xác vượt trội trong đo độ dày lớp phủ và phân tích thành phần cho nhiều ứng dụng mạ và hợp kim trong công nghiệp. Được thiết kế để xử lý các tình huống đo lường khó, thiết bị là giải pháp lý tưởng cho các chuyên gia kiểm soát chất lượng khi làm việc với hình học phức tạp, khu vực lõm và lớp phủ đa lớp.

Thiết kế đường quang học từ trên xuống độc đáo cho phép kiểm tra không phá hủy các mẫu có hình dạng không đều—những mẫu khó đo bằng các thiết bị để bàn thông thường. Trái tim của khả năng phân tích là ống tia X vi tiêu điểm kết hợp với thuật toán EFP (Elite Fundamental Parameters) tiên tiến, phối hợp để đạt kết quả chính xác trên các điểm đo nhỏ tới 0.01mm². Hệ thống còn được tăng cường bởi thiết bị zoom thông minh và chức năng hiệu chỉnh khoảng cách tinh vi, bù trừ các thay đổi khoảng cách đo lên tới 90mm nhằm đảm bảo độ chính xác ổn định trên các bề mặt cong hoặc không phẳng.

VR-XD 1000 hỗ trợ phân tích đồng thời nhiều lớp và nhiều nguyên tố trong từng lớp, cung cấp thông tin chi tiết về các cấu trúc lớp phủ phức tạp, bao gồm độ dày của cùng một nguyên tố tồn tại ở các tầng khác nhau. Công nghệ phân tách phổ tiên tiến giúp giảm thiểu nhiễu từ phổ của các nguyên tố lân cận, cải thiện đáng kể độ chính xác phép đo và hạ thấp giới hạn phát hiện.

Được chế tạo để đảm bảo độ tin cậy và dễ sử dụng trong môi trường công nghiệp, thiết bị có thiết kế chắc chắn cùng bàn thao tác thủ công độ chính xác cao để định vị mẫu chính xác. VR-XD 1000 là sự kết hợp hoàn hảo giữa năng lực phân tích mạnh mẽ và tính thực tiễn, trở thành công cụ không thể thiếu cho các ngành ô tô, hàng không vũ trụ, điện tử và xử lý bề mặt kim loại—những lĩnh vực mà việc xác minh tính toàn vẹn và thành phần lớp phủ là yếu tố then chốt đối với hiệu suất và tuân thủ tiêu chuẩn sản phẩm.